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揭秘!車規(guī)級IGBT動態(tài)測試什么設備比較專業(yè)可靠?

日期:2025-01-12 02:51
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摘要:揭秘!車規(guī)級IGBT動態(tài)測試什么設備比較專業(yè)可靠?

    揭秘!車規(guī)級IGBT動態(tài)測試什么設備比較專業(yè)可靠?

在國際節(jié)能環(huán)保的大趨勢下,IGBT下游的新能源汽車、變頻家電、新能源發(fā)電等領域發(fā)展迅速。加上我國經(jīng)濟飛速發(fā)展,能源需求量大幅上升,在這樣的背景下,各企業(yè)對IGBT模塊的需求逐步擴大,新興行業(yè)的加速發(fā)展也持續(xù)推動IGBT市場的高速增長。

    以往國內的IGBT廠家主要以封裝為主,IGBT芯片大部分都是購買的英飛凌、ABB等進口品牌。這些進口大廠的芯片技術比較成熟,良率及穩(wěn)定性比較高,因此在封裝過程中,因芯片本身質量問題導致的模塊**情況比較少,所以絕大部分封裝廠都是在IGBT模塊封裝成成品以后才做動態(tài)參數(shù)測試。
    隨著國產IGBT芯片的興起,越來越多的國產自主IGBT芯片被引入到封裝廠,封裝成模塊并應用到各行各業(yè)。目前大部分國產IGBT芯片還未經(jīng)過大量的市場和時間的考驗,在良率和穩(wěn)定性上會比進口品牌差一些,如果芯片封裝成模塊之后再去測試動態(tài)參數(shù),那么模塊測試失效的話,損失會比較大,尤其是電動汽車用的IGBT模塊,價格比較昂貴,一般內部為6個單元,如果一個單元失效,那么整個模塊報廢,封裝廠損失較大。
    那么有沒有一種辦法,能夠將性能有缺陷的IGBT芯片在封裝成模塊之前提前篩選出來,防止芯片封裝到模塊之后,失效而導致整個模塊報廢呢?
    目前有2種方式:
    1、wafer階段測試。
    目前wafer階段測試,大部分晶圓廠或封裝廠采用的都是靜態(tài)測試。但是靜態(tài)測試的條件比較有限,IGBT只能在低電壓大電流或者高電壓小電流的條件下工作,對芯片的篩選能力有限。而動態(tài)測試條件下,IGBT要在高電壓和大電流下開通和關斷,對其性能要求更加嚴苛,篩選標準更嚴格,若再配合高溫短路測試,則篩選能力大幅提高。但是針對wafer的動態(tài)測試技術難度很高,實現(xiàn)起來非常困難,且測試設備極其昂貴,也不容易買到。所以wafer階段的動態(tài)參數(shù)測試,現(xiàn)階段不容易實現(xiàn)。
    2、DBC階段測試。
    將IGBT芯片從wafer上取下來,焊在DBC上,再進行一次綁線,將芯片的G、C、E極與DBC上預留的綁線位通過金屬線連接起來,此時的IGBT狀態(tài),我們可稱之為DBC階段。如果在DBC階段就對IGBT進行測試篩選,將性能**的芯片篩選出來,那么封裝成IGBT模塊以后,模塊的**率會大大降低。而DBC階段的IGBT成本大大低于IGBT模塊,比如一個450A的62mm模塊,內部分為上下兩個橋臂,有2個IGBT單元,每個IGBT又是由2個IGBT芯片并聯(lián)而成(通過DBC的形式并聯(lián),每顆芯片焊在一塊DBC上),那么一個模塊里面就相當于有4塊DBC。
    如果對DBC進行測試的話,則每次只測試1塊DBC,那么如果IGBT失效,每次只會損失1塊DBC;假設封裝成IGBT模塊以后,測試失效,那么同時損失的還有另外3塊DBC,再加上底板、外殼、焊接、灌膠等材料及一系列工序,整個模塊的價值損失是遠遠超過1塊DBC的。目前大部分的IGBT廠商對DBC的測試主要以靜態(tài)測試為主,很多廠商還未意識到DBC動態(tài)測試的重要性,尤其是導入國產IGBT芯片以后,對DBC進行100%的動態(tài)測試是十分必要的,可以大大降低生產成本,提高產品的可靠性。 
    DBC的動態(tài)測試,主要目的是在更嚴苛的測試條件下,將IGBT芯片的**品提前篩選出來,以降低制造成本,主要是測試DBC的高溫動態(tài)參數(shù)和高溫短路耐受能力。但DBC動態(tài)測試相對于模塊動態(tài)測試來說,難度更大,會涉及到很多新的問題。比如絕緣問題,由于DBC階段的芯片,表面是暴露在空氣中,沒有硅凝保護的,有些地方的電極距離不到1mm,在電壓高的時候,容易出現(xiàn)放電打火的問題,會損壞芯片;還有氧化的問題,DBC暴露在空氣中,在高溫條件下,表面易出現(xiàn)氧化變色的情況,影響外觀及焊接性能。因此DBC動態(tài)測試設備的技術難度也會比模塊動態(tài)測試設備難度大,國內很少有能制造出這種設備的廠家,若依賴于進口設備,價格也是十分高昂,這也是阻礙國內廠家進行DBC動態(tài)測試的一個原因。
    自主研發(fā)的IGBTDBC動態(tài)參數(shù)測試設備,已批量應用于國內電動汽車IGBT模塊制造廠家。其DBC動態(tài)測試設備,可連接自動化設備,實現(xiàn)自動化生產,也可獨立運行,手動操作,因此既適用于產線批量生產測試,也可用于研發(fā)少量測試。

    國內新能源汽車的迅猛發(fā)展,帶動了對IGBT、SiC等車規(guī)級功率器件的大量需求,同時對功率器件的可靠性要求亦提高了一個臺階。為滿足汽車行駛中各種工況的嚴苛要求,以及車規(guī)級器件極低的失效率PPM要求,更多更嚴格的篩選手段被不斷引入,同時也要兼顧總制造成本,以提高產品市場競爭力。高性能的DBC動態(tài)測試設備,在提高功率器件篩選標準的同時,大大降低了器件的制造成本,為國內功率器件的發(fā)展舔磚加瓦,并助力了新能源汽車的發(fā)展。


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